![]() |
|
|||||||||||||
BME VIK Méréstechnika és Információs Rendszerek Tanszék |
![]() |
MIT honlap - Kutatás - Projektek - Formális hibadiagnosztika | |
![]() |
A magasszintű funkcionális hibadiagnosztika formális módszerei1995 - 1998 Tanszéki témavezető: Pataricza András
A munka célja a nagybonyolultságú digitális rendszerek diagnosztikai algoritmusainak kutatása volt. Kidolgoztuk az adatfolyam háló alapú tervező rendszerekhez illeszkedő tesztszámító algoritmusok elvi alapjait és kísérleti implementációját. Kísérleti vizsgálatokat végeztünk a színezett Petri-hálók alkalmazására. Feltártuk az automatikus tesztszámítás és az integrált diagnosztika elvi kapcsolatát, valamint algoritmusokat dolgoztunk ki ez utóbbi induló modelljének automatikus származtatására. Kimunkáltuk a kényszer kielégítési problémák alkalmazását tesztgenerálási feladatokra és alkalmaztuk azt kapuszintű, funkcionális regisztertranszfer szintű áramköri tesztelési feladatokra; tulajdonságleírás alapú verifikációra illetve a sokprocesszoros rendszerekben végzett rendszerszintű önellenőrzésre. További információk a projektről: |